ESD靜電整改常見問題:大多數(shù)半導(dǎo)體器件容易被靜電放電損壞,尤其是大規(guī)模集成電路器件。靜電對設(shè)備造成的損害有兩種:顯性和隱性。當(dāng)時看不到隱性損傷,但在超壓和高溫條件下,裝置變得更加脆弱,容易損壞。靜電放電的兩種主要失效機制是:ESD電流產(chǎn)生的熱量導(dǎo)致設(shè)備熱失效;靜電放電引起的高電壓導(dǎo)致絕緣擊穿。 ESD放靜電除了容易造成電路損壞外,還會對電子電路造成干擾。干擾靜電放電電路有兩種方式。一種是傳導(dǎo)模式。如果電路的某一部分構(gòu)成放電路徑,即ESD連接到入侵設(shè)備的電路,ESD電流流經(jīng)集成芯片的輸入端,造成干擾